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    產品展示

    當前位置:首頁產品展示測厚儀XAN涂鍍層測厚儀

    XAN涂鍍層測厚儀
    產品簡介:

    XAN涂鍍層測厚儀特別適合測量和分析超薄鍍層,即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量。該系列產品簡單易用且性價比高,因此在同類產品中脫穎而出。

    產品型號:

    更新時間:2020-12-10

    廠商性質:經銷商

    訪 問 量 :8322

    服務熱線

    0574-86861636

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    產品介紹

    產品介紹:

       XAN® 系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層,即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量。該系列產品簡單易用并且性價比高,因此在同類產品中脫穎而出。

    XAN涂鍍層測厚儀應用:

    (一)鍍層厚度測量

    1、厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層。

    2、時尚首飾:對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統進行分析。

    3、抗磨損鍍層,如:對化學鎳鍍層的厚度及磷含量來進行測量。

    4、測試納米級的基礎金屬化層(凸點下金屬化層,UBM)。

    (二)材料分析

    1、測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度。

    2、專業實驗室、檢測機構以及科研院校中常規的材料的分析。

    3、依據 RoHSWEEECPSIA 以及其他準則,檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的其它物質(例如重金屬)。

    4、功能性鍍層的成分,如測定化學鎳中的磷含量。

    XAN涂鍍層測厚儀特性:

    1、操作簡單并且性價比高。

     2、自下而上來進行測量,從而非常快速、簡便地定位樣品。

    3、廣泛適用:為各個行業的典型需求量身定制了多種型號。

    4、以非破壞性的方式進行鍍層厚度測量與元素分析。

    5、帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機型,可對極薄鍍層及微量成分進行精確測量。

     

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