投影測徑儀與激光掃描測徑儀的區(qū)別

 一、光電測徑儀/CCD投影測徑儀

　　光電測徑儀/CCD投影測徑儀由于靠發(fā)光二極管經(jīng)過投影成像運算的方法來測量，而且投影的平行光帶不太容易保證，再加上現(xiàn)在平行光管與CCD的技術的發(fā)展，現(xiàn)在很多企業(yè)開始采用CCD成像法測量直徑，其光源采用波長較長的紅外光，抗干擾較強，由于少了許多機械件，所以設備較穩(wěn)定可靠，但CCD成像受相素的制約，在精度上不太容易保證，特別是大直徑的物體測量，但又不能太細，太細會有掃描測徑儀相同的問題。

二、激光掃描測徑儀

　　利用衍射掃描原理測量細線的直徑，而且據(jù)說都是引進的德國的技術，此技術與前兩項剛好相反，只適用于測小直徑的細絲，而且越細越好，因為此技術是利用衍射原理，理論只有當波長與被測物相近或大于被測長物時衍射zui明顯。